參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

1.平面坐標偏差：X/Y/Z三軸定位精度0.002mm
2.旋轉角度偏差：軸向偏轉≤0.05
3.同心度誤差：徑向跳動量≤0.01mm
4.平行度公差：基準面偏移量≤0.005mm/m
5.垂直度偏差：正交角度誤差≤0.03
6.對稱度誤差：鏡像特征位置差≤0.015mm
7.同軸度公差：軸線偏移量≤φ0.02mm
8.位置度偏差：特征點坐標誤差0.008mm
9.輪廓匹配度：三維曲面偏差≤0.05mm
10.裝配間隙測量：配合面間距精度0.003mm

檢測范圍

1.精密機械傳動部件
2.半導體封裝基板
3.光學鏡頭模組
4.PCB電路板焊盤陣列
5.汽車發(fā)動機缸體
6.航空航天結構件
7.醫(yī)療器械植入體
8.模具成型鑲件
9.連接器端子陣列
10.3D打印金屬構件

檢測方法

ASTME2919-19光學坐標測量系統校準規(guī)范
ISO10360-7:2018坐標測量機驗收標準
GB/T1958-2017產品幾何量技術規(guī)范（GPS）
GB/T16857.6-2016坐標測量機探測系統測試方法
ISO230-1:2012機床檢驗通則第1部分

檢測設備

1.UltraScanC12三坐標測量機：配備0.6μm測頭系統
2.OptiTrackM400激光跟蹤儀：空間定位精度15μm+6μm/m
3.NanoFocusμsurf三維輪廓儀：Z軸分辨率1nm
4.KeyenceLM-9000影像測量系統：雙遠心鏡頭1μm重復精度
5.HexagonAbsoluteARM七軸測量臂：動態(tài)精度0.025mm
6.MitutoyoCRYSTA-ApexS坐標機：溫度補償系統0.5℃
7.ZeissO-INSPJianCe復合式測量機：CT+光學融合技術
8.OGPSmartScopeFlash3020多傳感器系統：20倍變焦鏡頭組

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質